一、高溫老化試驗(yàn)范圍：

本規(guī)范規(guī)定了公司半成品、產(chǎn)品及主要功能模塊的高溫老化過程及操作規(guī)則。

本規(guī)范適用于公司需進(jìn)行高溫老化的產(chǎn)品。

二、高溫老化篩選目的：

為提高產(chǎn)品可靠度,消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境，以鑒別和剔除產(chǎn)品工藝

和元件引起的早期故障，確保整機(jī)品質(zhì)和期望壽命，進(jìn)入高可靠的穩(wěn)定期。

三、高溫老化試驗(yàn)基本要求：

3.1 高溫老化篩選對(duì)象

3.1.1 進(jìn)行老化試驗(yàn)的產(chǎn)品應(yīng)是裝配調(diào)測(cè)合格品；

3.1.2 公司半成品、產(chǎn)品及主要功能模塊。

3.2 模擬狀態(tài)要求

3.2.1 為保證產(chǎn)品的性能穩(wěn)定可靠，老化時(shí)應(yīng)模擬產(chǎn)品工作狀態(tài)；

3.2.2 當(dāng)老化的產(chǎn)品需輸入信號(hào)時(shí)，應(yīng)在額定輸出功率狀態(tài)下進(jìn)行，同時(shí)做好散熱措施。

3.2.3 對(duì)于射頻設(shè)備應(yīng)：

a）設(shè)備的信號(hào)線和負(fù)載線的接入、接出應(yīng)按照基本操作要求進(jìn)行,并模擬設(shè)備的實(shí)際工作狀態(tài)；

b）設(shè)備輸出端應(yīng)與阻抗匹配的負(fù)載相連，負(fù)載的額定功率應(yīng)不小于整機(jī)額定輸出功率2 倍～3 倍；

c）在信號(hào)源和設(shè)備之間，應(yīng)加上隔離器或環(huán)形器；

d）嚴(yán)禁將大功率功放的輸出信號(hào)通過合路器合路再進(jìn)入負(fù)載的連接方式。

四、老化前的準(zhǔn)備及注意事項(xiàng)：

a） 老化前應(yīng)確認(rèn)高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備是否完好；

b） 當(dāng)多臺(tái)老化產(chǎn)品一起進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，各老化產(chǎn)品之間應(yīng)有足夠的間隙，以使高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)溫度有足夠的均勻性。

不應(yīng)將老化產(chǎn)品堆積或擺放無序，以免影響老化效果和對(duì)產(chǎn)品造成損壞。

五、高溫老化溫度和時(shí)間：

高溫老化溫度、時(shí)間如下所示可任選一種：

a）室溫條件下通電連續(xù)老化不得少于 96 h；

b）40℃±2℃條件下通電連續(xù)老化不得少于72 h；

c）45℃±2℃條件下通電連續(xù)老化不得少于48 h；

d）50℃±2℃條件下通電連續(xù)老化不得少于24 h；

e）55℃±2℃條件下通電連續(xù)老化不得少于12 h。

六、高溫老化程序：

6.1對(duì)老化產(chǎn)品施加產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的工作電壓。

6.2在老化產(chǎn)品通電的狀態(tài)下將高低溫試驗(yàn)箱的溫度加熱至規(guī)定的試驗(yàn)溫度，老化過程中的環(huán)境溫度變化應(yīng)

在規(guī)定溫度的±2℃范圍內(nèi)。

6.3 老化溫度達(dá)到規(guī)定值，恒溫后開始計(jì)時(shí)。

6.4 老化過程中應(yīng)每隔2 h 查看老化室的運(yùn)行是否穩(wěn)定，特別是測(cè)量溫度。老化過程中發(fā)現(xiàn)溫度異常

時(shí)，應(yīng)立即切斷電源。待老化室恢復(fù)正常后再繼續(xù)進(jìn)行老化。

6.5 老化產(chǎn)品在老化過程中應(yīng)定時(shí)進(jìn)行主要性能指標(biāo)檢測(cè)，具體指標(biāo)種類及參數(shù)在轉(zhuǎn)產(chǎn)文件的技術(shù)說

明中規(guī)定。

a）常規(guī)產(chǎn)品老化,每 5h～6h 測(cè)試一次,并記錄測(cè)試時(shí)的溫度；

b）常規(guī)產(chǎn)品老化，采用抽測(cè)方式，每次測(cè)試的產(chǎn)品應(yīng)不少于 10％；

c）遇到所測(cè)型號(hào)設(shè)備存在問題時(shí)，應(yīng)根據(jù)實(shí)際情況，增加該類產(chǎn)品的檢測(cè)數(shù)量，并不少于

10％。

6.6 老化過程中產(chǎn)品出現(xiàn)故障時(shí)，應(yīng)在附錄A 的備注欄中詳細(xì)記錄故障情況。

6.7 老化后的產(chǎn)品在室溫下至少放置2 h 后，由生產(chǎn)計(jì)劃部進(jìn)行復(fù)測(cè)，并做好測(cè)試記錄，合格后提交

檢驗(yàn)部門檢驗(yàn)。

6.8 單盤的測(cè)試在老化后進(jìn)行，測(cè)試項(xiàng)目包括監(jiān)控功能、輸出電壓值等。抽測(cè)數(shù)量應(yīng)不少于20％，如

老化后有不合格的試驗(yàn)樣品，該批次需全部測(cè)試。

注：本規(guī)范中的單盤指直接提供給用戶的單盤或模塊。

七、標(biāo)識(shí)：

a）老化測(cè)試合格的產(chǎn)品，應(yīng)在產(chǎn)品易觀查的表面用綠色標(biāo)簽做標(biāo)識(shí)；

b）老化測(cè)試不合格的產(chǎn)品，應(yīng)在產(chǎn)品易觀查的表面用紅色標(biāo)簽做標(biāo)識(shí)。

八、測(cè)試記錄：

8.1 根據(jù)測(cè)試的項(xiàng)目填寫老化測(cè)試記錄，見附錄A。

8.2 單盤老化測(cè)試記錄見附錄B。

8.3 老化測(cè)試記錄表應(yīng)每月由人員歸檔。

九、高低溫試驗(yàn)箱老化設(shè)備維護(hù)要求：

9.1 老化試驗(yàn)的所有測(cè)試器件應(yīng)定期進(jìn)行測(cè)試檢驗(yàn)，

9.2 所有老化設(shè)施的檢測(cè)應(yīng)每月進(jìn)行一次,主要檢測(cè)項(xiàng)目為：

——老化設(shè)備高低溫試驗(yàn)箱溫控系統(tǒng)的校應(yīng)；

——老化負(fù)載的駐波比測(cè)試；

——信號(hào)源的輸出信號(hào)準(zhǔn)確度的測(cè)試；

——電源的輸出電壓測(cè)試。

9.3 測(cè)試結(jié)果應(yīng)記錄，要有正規(guī)的、統(tǒng)一的格式。